而我们在研究中发现，只要双组分的波强是具有加和性，且双组分的波强增辐有差异，我们就可以同时测定混合物中的双组分。为此我们申请了国家发明专利《谱峰完全重叠的双组分混合物同时测定的光谱分析方法》（ZL200810233109.4 ），此专利改变了教科书的岐见，推进了分析化学方法更新。

    专利说明：分析模型如右图所示，双组分的两条标准曲线相交于同一点，形同两条射线围成一个三角范围，若双组分混合物的光谱测量值落入其中，则可通过比例求法得到待测双组分混合物的总量并计算得到其中两个待测组分的含量。本发明中的光谱分析方法操作简便，计算直接，简便可靠。可用于多种光谱分析或依据特征峰的分析，解决了分子光谱分析中谱峰完全重叠的双组分同时测定的问题，可用于解决手性分析中“不经分离而同时测定两个手性对映体”。为此我们创建名为“同原射线计量分析法”（Measurement analysis of two lines with one same point)。其特征是提供一种谱峰完全重叠的双组分混合物同时测定的光谱分析方法。

                       丰都智愚河畔环境技术工作室